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    兩項光學(xué)晶體國家標(biāo)準(zhǔn)將于今年4月1日起實施
    • 點擊數(shù):900     發(fā)布時間:2009-03-04 13:08:25
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        據(jù)中科院網(wǎng)站消息,由中科院福建物構(gòu)所、福建光電子材料工程技術(shù)研究中心和福建福晶科技股份有限公司聯(lián)合起草的《硼酸鹽非線性光學(xué)單晶元件通用技術(shù)條件(GB/T 22452-2008)》、《硼酸鹽非線性光學(xué)單晶元件質(zhì)量測試方法(GB/T 22453-2008)》兩項標(biāo)準(zhǔn),日前已獲批,將于今年4月1日開始實施。

        據(jù)悉,國內(nèi)外目前尚無與硼酸鹽非線性光學(xué)單晶元件相關(guān)的技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。這兩項技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的實施將有助于提升元件的制備加工和測試的技術(shù)手段及檢測水平,保證產(chǎn)品質(zhì)量的一致性,控制產(chǎn)品成本,提高我國非線性晶體元件行業(yè)的整體技術(shù)水平。

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