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    資訊頻道

    使用PXI模塊化儀器完成超低功耗ASIC設(shè)計的結(jié)構(gòu)和內(nèi)存測試
    &quot;我們已使用PXI Express自動測試系統(tǒng)完成多個項目,并獲得非常滿意的效果。自動測試系統(tǒng)大大減少了芯片測試的時間,而其快速、準確的直流測試更是實驗室的寶貴財富。&quot;
    關(guān)鍵詞:

                          

                           PXI Express測試儀器與實驗芯片相連接的測試平臺

       "我們已使用PXI Express自動測試系統(tǒng)完成多個項目,并獲得非常滿意的效果。自動測試系統(tǒng)大大減少了芯片測試的時間,而其快速、準確的直流測試更是實驗室的寶貴財富。"

       - Mario Konijnenburg, Holst Centre/imec

       The Challenge:

       創(chuàng)建靈活的測試系統(tǒng)用于自動驗證和表征新的超低功耗半導(dǎo)體芯片設(shè)計。

       The Solution:

       使用NI LabVIEW軟件和NI PXI Express高速數(shù)字I/O設(shè)備開發(fā)自動測試系統(tǒng),前者讀取測試向量,后者產(chǎn)生和接收數(shù)字數(shù)據(jù),并同時以很高的精度測量芯片設(shè)計的直流損耗。 
     

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