一種存儲(chǔ)芯片的壞塊識(shí)別與管理分析
- 廠商:《自動(dòng)化博覽》
- 作者:朱偉亭
- 點(diǎn)擊數(shù):2919 發(fā)布時(shí)間:2012-10-10 16:03:00
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存儲(chǔ)芯片是測(cè)量?jī)x器的重要組成部分,如果水中兵器裝備中選用的存儲(chǔ)芯片如NAND FLASH存儲(chǔ)芯片因加工工藝而存在壞塊,那么壞塊就可以導(dǎo)致數(shù)據(jù)記錄的不連續(xù)性。本文對(duì)NAND FLASH存儲(chǔ)芯片的特性進(jìn)行了分析,定義了壞塊類型,提出了一種通過(guò)壞塊識(shí)別處理壞塊的方法,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)FLASH的可靠存儲(chǔ),實(shí)際工程應(yīng)用表明具有較高的存儲(chǔ)
可靠性。
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