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                                    ABB
                            
    
            關(guān)注中國(guó)自動(dòng)化產(chǎn)業(yè)發(fā)展的先行者！
            
    
                
				
                
                
                
            
    
        
    
    
    

    

    
    
    
    
        
        
        
        
       
					
    
				
    
					
    
												
    
							CAIAC 2025
						
    
												
    
							2025工業(yè)安全大會(huì)
						
    
												
    
							OICT公益講堂
						
    
						
					
    
				
    
				
    
			
    
		
    
    

    

    
    
    
    

    


    
        
    
            
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    案例頻道
    
        
    
		
    
			
    
				
    使用LabVIEW和NI PXI 測(cè)試ASIC
    
				
    
					
				
    
				
                
				
				
    
                    
                             
    
                                   圖1. 使用DEDIX ASIC進(jìn)行X射線檢測(cè)
    

    
    "我們的虛擬儀器構(gòu)建在LabVIEW所編寫(xiě)的專(zhuān)用軟件的基礎(chǔ)上，因此用戶(hù)可以設(shè)置適當(dāng)?shù)臏y(cè)試配置、ASIC參數(shù)，并讀取數(shù)據(jù)，然后在圖形化用戶(hù)界面上顯示分析后的結(jié)果。正是由于基于NI產(chǎn)品構(gòu)建的這個(gè)系統(tǒng)方案，使得我們可以節(jié)省一年的測(cè)試時(shí)間。"
    

    
    – Piotr Maj,  AGH University of Science and Technology 
    

    
    The Challenge:
    

    
    設(shè)計(jì)和測(cè)試針對(duì)物理學(xué)和生物學(xué)應(yīng)用中的專(zhuān)用集成電路(application-specific integrated circuits, ASIC)。 
    

    
    The Solution:
    

    
    使用NI LabVIEW軟件和PXI硬件創(chuàng)建虛擬儀器，以盡可能快地測(cè)試ASIC 
    
				
    
			
    
			
    
                                    
    熱點(diǎn)新聞
    
                    
                
                                    
    推薦產(chǎn)品
    
                    
                			
    
		
    

        


	
    

    









    



    
    
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